掃描電鏡和透射電鏡的區(qū)別

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掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）是兩種常用的電子顯微鏡，它們在顯微級別觀察和分析樣品時具有不同的工作原理和應用場景。
掃描電鏡（SEM）：

• 工作原理：
  
  
  • SEM利用電子束與樣品表面相互作用，掃描樣品表面并探測從表面反射出來的二次電子、反射電子或者透射電子，形成樣品表面的顯微圖像。
    
• 成像特點：
  
  
  • SEM產生的是樣品表面的三維形貌圖像，能夠顯示樣品表面的形貌、紋理和微觀結構。
  • 分辨率一般在納米級別到亞納米級別，適合觀察樣品的表面形貌和微觀結構。
    
• 應用：
  
  
  • 用于觀察和分析金屬、陶瓷、生物組織等材料的表面形貌和微觀結構。
  • 廣泛應用于材料科學、生命科學、地質學等領域。
    

透射電鏡（TEM）：

• 工作原理：
  
  
  • TEM通過樣品透射電子束的方式，測量樣品內部的透射電子的強度和位置，形成樣品內部的高分辨率顯微圖像。
    
• 成像特點：
  
  
  • TEM提供樣品內部的詳細結構信息，能夠觀察到原子級別的細節(jié)。
  • 具有非常高的分辨率，能夠分辨出非常小的結構和納米尺度的粒子。
    
• 應用：
  
  
  • 主要用于觀察和分析納米材料、細胞結構、蛋白質、病毒等細小和復雜結構的樣品。
  • 在生物醫(yī)學、材料科學、納米技術等領域有重要應用。
    

總結：

• SEM適用于觀察表面形貌和微觀結構，提供三維的外觀信息。
• TEM適用于觀察樣品的內部結構和原子級細節(jié)，提供高分辨率的內部構造圖像。
  

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