xray膜厚測試儀測試原理

合凈機械

X射線膜厚測試儀的測試原理基于X射線的穿透能力和材料對X射線的吸收特性。當X射線穿透被測物體時，不同厚度或密度的材料會對X射線產生不同程度的衰減。這種衰減與材料的厚度、密度以及X射線的能量有關。通過測量X射線在穿透前后的強度變化，并結合已知的材料特性和X射線能量，可以計算出材料的厚度。  
具體來說，X射線源發射出一束X射線，這束射線穿過待測薄膜后，其強度會被薄膜部分吸收。剩余的X射線強度被探測器接收并轉換為電信號。根據X射線的初始強度和透過后的強度差，結合薄膜對X射線的吸收系數，就可以計算出薄膜的厚度。這種方法具有非破壞性、高精度和快速響應的特點，廣泛應用于各種薄膜材料的厚度測量。

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嘟嘟可

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