外觀檢查：在儀器校準前，應檢查儀器的外觀，確保沒有影響儀器校準操作的缺陷。
光源光譜半寬：使用光譜分布測量設備測量偏光儀的光源光譜分布，記錄峰值波長和光源光譜半寬。
儀器零點調整：待儀器預熱穩定后，樣品倉內不放置任何樣品，以空氣作為參比，調節儀器的相位延遲零點并記錄示值。
相位延遲零點漂移：連續測量3分鐘，讀取相位延遲示值的最大漂移量，即為儀器的相位延遲零點漂移。
相位延遲示值誤差與重復性：根據儀器測量波長，選用對應光源條件下具有標定量值的標準相位延遲片對儀器進行相位延遲校準。測量一組4片的標準相位延遲片，記錄示值誤差與重復性。