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標題: 聚焦離子束工作原理 [打印本頁]

作者: 聚焦納米儀器 時間: 2025-2-25 09:31
標題: 聚焦離子束工作原理
聚焦離子束（Focused Ion Beam, FIB）技術是一種利用高能離子束進行精密加工和分析的技術，廣泛應用于半導體、材料科學、生物醫學等領域。其工作原理主要包括以下幾個步驟：
1.離子源產生離子束
聚焦離子束系統通過離子源（通常是液態金屬源，如鎵源）產生離子。液態金屬源通過電場加速將液態金屬（如鎵）蒸發成原子，然后通過電離將這些原子轉化為帶電的離子。
2.離子加速與聚焦
這些離子通過加速電場被加速到高能狀態，通常能量范圍在10-50 keV之間。加速后的離子束通過電磁透鏡系統進行聚焦，形成非常細小的束流，能夠精確地定位在樣品的指定區域。
3.離子束掃描與作用
聚焦的離子束掃描樣品表面。離子與樣品發生相互作用，具體作用方式取決于離子的能量和樣品的性質。主要的作用包括：
刻蝕（材料去除）：高能離子直接轟擊樣品表面時，會引發物理損傷，導致表面材料的去除。這種過程可以進行微米甚至納米級別的精細加工。
薄膜沉積：通過將不同的氣體引入離子束區域，離子與氣體反應，可以在樣品表面沉積薄膜，形成新的材料層。
離子束分析：離子與樣品相互作用時，會產生不同的信號（如二次電子、背散射電子、X射線等），這些信號可以被收集并用于材料的表征和分析。
4.圖像獲取與分析
通過二次電子探測器收集樣品表面發射的二次電子，形成高分辨率的圖像。這使得FIB不僅用于加工，也能用作顯微成像工具。FIB的分辨率可以達到納米級別，甚至可以用于微結構分析。
5.應用領域
半導體加工：在集成電路制造中，FIB可用于修復電路、定位故障、微加工等。
材料科學：用于材料表面微結構的刻蝕、樣品制備、薄膜沉積、晶體缺陷分析等。
生物醫學：可以用作生物樣品的高精度雕刻和結構分析。
故障分析：通過切割、分析樣品的表面和內部，找出材料或元件中的缺陷。
總體來說，FIB技術以其高精度和多功能性，成為現代納米制造和分析領域的重要工具。

作者: hu822 時間: 2025-3-21 05:25
感謝您的回答，讓我受益匪淺。

作者: 姜小餅干 時間: 2025-3-28 01:38
這個問題我剛好有研究，可以聊聊。

作者: 加勒比水稻 時間: 2025-11-10 21:15
學到了新知識，感謝樓主的分享！

作者: keke5 時間: 2025-11-20 23:37
樓主加油，相信你一定能解決問題！

作者: c919牛比 時間: 2025-11-28 05:36
非常同意樓主的觀點，確實是這樣。

作者: 今天開始減肥 時間: 昨天 15:03
樓主說得太對了！這些行業實操經驗真的太寶貴了～

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